136-3284-1466
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新型EA1280具有中國標(biāo)準(zhǔn)（GB標(biāo)準(zhǔn)）建議要求的檢測器分辨率，相比于Si - PIN二極管等其他半導(dǎo)體檢測器，其工作效率和分析準(zhǔn)確度更高。尤其與其他分析方法相比，X射線熒光分析可提供快速、無損、簡單的元素分析，因此其持續(xù)多次用于RoHS合規(guī)性篩查中。
1. 使用新型高性能半導(dǎo)體檢測器（硅漂移檢測器（SDD）），便于提高測試工作效率和獲得更可靠結(jié)果。
2. 采用同軸光學(xué)器件進行樣品觀察和輻照X射線，便于分析各種樣品。
3. 配備易用軟件，便于操作員僅需接受簡單的質(zhì)量控制和過程控制培訓(xùn)即可使用分析儀。
型號 EA1280 測量元素范圍 13Al～ 92U 準(zhǔn)直器（分析光斑尺寸） 5 mmΦ（1、3 mmΦ：可選） 初級濾波器（用于優(yōu)化性能） 5種模式（4臺濾波器+關(guān)閉）自動切換 樣品艙 環(huán)境大氣 檢測器 高性能SDD 分析儀尺寸 520（寬）×600（深）×445（高）mm 重量 約69 kg 樣品艙尺寸 304（寬）×304（深）×110（高）mm EA1280是加入日立 EA1000系列分析儀的最新型號，具備強大的分析能力，能滿足廣泛的測試要求。EA1280 技術(shù)規(guī)格
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